题名：反射光谱包络线法测量光电薄膜的光学常数和厚度

作者：刘朝霞;楚合营;黄新成;张景川;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.14139/j.cnki.cn22-1228.2015.03.004

注册时间：2015-07-10 16:10:25

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